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積分球作為一種光學(xué)儀器，近一百年來被廣泛應(yīng)用于光度測量和輻射測量中。在許多應(yīng)用中，積分球通常被用作測試CCD或CMOS等焦面陣列光電器件的均勻輻射光源。然而，由于積分球?qū)嶋H的制造安裝、內(nèi)部擋屏的幾何位置、漫反射涂層的實際厚度和內(nèi)部光源的幾何位置等因素的影響，造成實際的積分球輻射光源開口處的照度均勻性并不理想。

另一方面，在航空和天文等領(lǐng)域中使用的科學(xué)級別CCD經(jīng)常需要在較低的溫度下工作。如果在積分球上進(jìn)行器件測試，積分球內(nèi)部光源的熱量對器件的影響就不能忽略。因此，按照理想情況下在積分球光源出口處對光電器件進(jìn)行測試是不合適的。