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2018-07-21 來源:科聯(lián)電子
在積分球漫反射樣品的測量中,有兩種常用的消除鏡面反射成分的方法:一種是使樣品的法線與照射光束的光軸重合,使鏡面反射成份沿入射光路的反向射出。入射光學(xué)系統(tǒng)表面的反射率應(yīng)盡可能低,以便更徹底地消除鏡面反射。另一種方法是使樣品的法線與照射光束的光軸成一定角度,或者樣品的法線與接收光束的光軸成一定角度。這個角度的大小一般為6度或8度。
同時,在樣品的鏡面反射方向上,在積分球上開孔。當(dāng)鏡面反射成分被排除在測量之外時,放置光吸收阱。使積分球鏡面的反射成分被光阱吸收。為了更徹底地消除積分球鏡面反射成分,光吸收阱的孔徑應(yīng)大于鏡面反射光束的幾何光學(xué)尺寸。對于一個常見的樣本,光束的幾何光學(xué)尺寸四周可以大出2度。光吸收阱的尺寸由結(jié)構(gòu)決定。不一定需要使光學(xué)吸收阱用于確定樣品的暗讀數(shù)。如果機箱內(nèi)部的光密閉性較好 ,在某些條件下可以不用光吸收阱。讓鏡面反射光直接進(jìn)入機箱就可以。
如果測量包含了鏡面反射成分,則需要將積分球開孔蓋上。當(dāng)然,蓋板的涂層應(yīng)該與積分球的涂層一致。